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X線共鳴吸収スペクトルを解析するためのアプリケーション。多重散乱理論を用いることで、エックス線吸収微細構造(XANES)の高精度予測を行うことができる。従来のマフィン-ティン近似による計算がうまくいかない系(SiのK端やSiO2のL端など)でも、良好な結果が得られる。VASPの出力ファイルを利用することが可能。